CLJ-BII（J）全半导体激光尘埃粒子计数器

CLJ-BII（J）全半导体激光尘埃粒子计数器仪器简介：　

　  该仪器的技术指标满足国家计量总局颁布的JJG547-88检定规程的要求，整机功能采用微电脑控制处理，可直接打印检测结果。具有功能多、测量精度高、速度快、便于携带和操作简单等特点。仪器一次采样可同时测得多种粒径的尘埃粒子数，并能选择观察其中某一粒径粒子的数目及其变化情况，对于研究、检测和评价各种洁净环境都十分方便。

　　该系列产品已被广泛应用于微电子、医院、制药、医疗器械、生化制品、食品卫生、精细化工、精密机械和航空航天等生产和科研部门，是制药企业及其监督管理部门贯彻GMP规范的必选仪器。该系列仪器性能设计、质量稳定可靠，深受用户欢迎。经国内贸易部有关部门的市场调查和，先后获《质量信得过产品》、《消费者信得过产品》、《质量监督合格产品》等荣誉证书。

技术参数:

型号：CLJ-BⅡ(J)

采样流量：2.83L/min

检测范围：100级～30万级

自净时间：≤10min

连续工作时间：8h

打印功能：内置打印机

工作环境：温度10~35℃，相对湿度≤75%

电源：220V±10%，50Hz±2Hz

粒径通道：0.3，0.5，1，3，5，10（um）六通道

采样周期：1min~10min(10档)

时钟：有时钟

公英制转换：有公英制转换

判断净化级别：按95%置信度判断净化级别

电源及寿命：全半导体激光>30000h

功耗：35W

外形尺寸：22.5X10X25(cm)

重量：4Kg