合工大研发光学测量领域新方法 为光学仪器研制添动力

近日，合肥工业大学研究人员在光学测量领域提出一种分析方法，在精密测量中实现了高阶标定模型的计算效率和稳定性的大幅提升。该成果被《测量科学与技术》评选为亮点论文。

条纹投影扫描测量技术凭借非接触式测量、测量速度快以及测量精度高等优点，广泛应用于逆向工程、文物?；さ雀丛忧婕负尾问木懿饬苛煊?。但由于条纹投影扫描测量技术需要通过高阶模型进行标定，在测量中获取的各项数据在高阶模型中标定较为困难，从而影响了测量结果的稳定性。
研究人员针对标定模型优化、自适应有效点云识别以及相位误差补偿等关键问题，提出了创新性的解决办法，从而获取了高精度的三维轮廓点云。同时，该团队提出一种确定高阶标定模型中各组成项对重构结果重要性的分析方法，可在测量过程中识别并剔除对重构结果影响微小的组成项，并通过优化高阶标定模型，在保证精度的前提下，提升了高阶标定模型的计算效率和稳定性。据介绍，该成果可广泛应用于高精度光学三维扫描领域。目前，该团队已在条纹投影测量技术领域申请4项国家发明?！”嗉闫馈　⌒碌墓庋Р饬糠椒ú唤瞿芄皇迪指呓妆甓Ｐ偷募扑阈屎臀榷ㄐ?，并且提高了测量速度以及测量精度，能够为今后光学测量仪器设备提高技术上的支持和创新，同时能够得到更为的分析数据。

（原标题：合肥工大提出精密测量新分析法）
（来源：中国科学报）